制冷制热性能测试:模拟帕尔贴效应,通过直流电源驱动热电芯片,实时监测冷热端温度变化(范围 - 20℃~150℃),可测试制冷量(0.5~50W)、制热功率(1~100W)及能效比(COP)。 支持多芯片并联 / 串联测试,验证不同电路拓扑下的性能差异。
功能:
制冷制热性能测试:模拟帕尔贴效应,通过直流电源驱动热电芯片,实时监测冷热端温度变化(范围 – 20℃~150℃),可测试制冷量(0.5~50W)、制热功率(1~100W)及能效比(COP)。支持多芯片并联 / 串联测试,验证不同电路拓扑下的性能差异。
温差发电性能测试:模拟赛贝克效应,通过温度巡检仪控制热源(如加热块)与冷源(如散热器)建立温差(5℃~100℃),测量开路电压(0~30V)、短路电流(0~5A)及最大输出功率(0~150W)。支持动态负载测试,通过直流负载仪模拟实际应用中的电阻、电容或复杂电路负载(0~999.9Ω 连续可调),绘制功率 – 负载曲线。多参数同步测量:温度巡检仪支持 16 路热电偶输入(K/J/T 型可选),精度 ±0.5℃,分辨率 0.1℃,实时监测芯片表面、热源、冷源等多点温度。直流电源与负载仪同步采集电压(0~30V)、电流(0~5A)数据,精度 0.1% FS,支持动态波形记录。自动化数据分析:专用实训软件自动计算热电转换效率(η)、塞贝克系数(S)、内阻(R)等关键参数,生成温差 – 电压、功率 – 负载等关系曲线,并支持与理论值对比分析。支持数据批量存储(CSV/Excel 格式)及报告生成,包含实验条件、原始数据、误差分析等内容。
参考价格:29.8万元/台
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